<track id="rpr7t"><strike id="rpr7t"><strike id="rpr7t"></strike></strike></track><track id="rpr7t"></track>

          <track id="rpr7t"><ruby id="rpr7t"></ruby></track>
          <track id="rpr7t"><strike id="rpr7t"><ol id="rpr7t"></ol></strike></track>

              <big id="rpr7t"><strike id="rpr7t"><span id="rpr7t"></span></strike></big>


                客服熱線:19875555006

                最新發表

                企業信息

                  19875555006

                  廣州至一科技有限公司

                  廣州市黃埔區水西路197號1126室

                  info@to-one.com.cn

                資訊動態 首頁 > 新聞中心 > 技術交流

                FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案

                作者:至一科技 日期:2021-01-03 點擊:3529
                一鍵分享

                FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案

                ArisMD300主動隔振系統


                背       景:應用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡成像檢測,是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺。

                使用單位:廈門稀土材料研究所

                地      點:福建省廈門市集美區兌山西珩路258號

                儀器型號:FEI Apreo S LoVac

                隔振方案:ArisMD300主動隔振系統


                ARISMD300主動隔振臺.jpg

                廈門稀土研究所賽默飛Spreo S SEM01.jpg

                FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡ArisMD300主動隔振系統應用安裝圖

                成像測試:

                Spreo S SEM成像圖01.jpg

                Spreo S SEM成像圖02.png

                Apreo S 電鏡掃描圖像65萬倍對比(安裝ArisMD300前后)

                扒开双腿猛进入喷水高潮视频

                    <track id="rpr7t"><strike id="rpr7t"><strike id="rpr7t"></strike></strike></track><track id="rpr7t"></track>

                        <track id="rpr7t"><ruby id="rpr7t"></ruby></track>
                        <track id="rpr7t"><strike id="rpr7t"><ol id="rpr7t"></ol></strike></track>

                            <big id="rpr7t"><strike id="rpr7t"><span id="rpr7t"></span></strike></big>